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densoku的原理及特點分析

  • 發(fā)布日期:2023-09-10      瀏覽次數(shù):628
    • densoku的原理及特點分析

      電解膜厚儀測量原理

      膜厚是通過陽極-陰極電解法熔化鍍膜來測量的,這是一種應(yīng)用“定律"測量鍍層厚度的方法。(陽極電解電路見圖1。)在鍍膜結(jié)束時,測量部分以恒定電流熔化,因此膜金屬消失,當?shù)讓咏饘俪霈F(xiàn)時,陽極電壓發(fā)生變化,這個電壓檢測到變化,測量結(jié)束。 待辦事項。(見圖2)

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      電解式膜厚儀特點

      • 雖然是破壞性測量方法,但測量簡便,可以測量多層電鍍。

      • 可測量雙鎳、三鎳各層膜厚及電位差

      • 可分別測量純錫層和鍍錫銅時形成的合金層的厚度。

      • 能夠測量X射線無法測量的鍍層厚度(最大300μm)。

      • 通過使用電線測試儀,可以測量細電線上的電鍍膜厚度。

      使用示例

      • 測量鍍錫線(鍍錫銅線)上純錫層的厚度

      • 汽車外飾件中Cr/Ni/Cu三層鍍層的測量,以及Ni鍍層中雙鎳、三鎳電位差的測量。

      • 無損膜厚計測量的交叉檢查

      • 相關(guān)產(chǎn)品介紹

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      電解膜厚計GCT-311
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      電解膜厚計CT-6
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      電解膜厚計CT-3

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