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更新日期：2024-03-23
簡要描述：
optiworks 非接觸式三維光學(xué)測量儀STIL-DUO實(shí)現(xiàn)更精確的表面形狀測量。 更寬的測量范圍 除了先前型號中使用的測量方法（“共聚焦色度模式"）外，還安裝了新的“干涉測量模式"。 現(xiàn)在可以支持更精確的表面輪廓測量。 兩種模式都可以根據(jù)所需的測量精度使用，從而擴(kuò)大了應(yīng)用范圍。
| 品牌 | 其他品牌 | 產(chǎn)品種類 | 臺式 |
|---|---|---|---|
| 數(shù)顯功能 | 有 | 溫控功能 | 有 |
| 產(chǎn)地 | 進(jìn)口 |
optiworks 非接觸式三維光學(xué)測量儀STIL-DUO
實(shí)現(xiàn)更精確的表面形狀測量。 更寬的測量范圍 除了先前型號中使用的
測量方法（“共聚焦色度模式"）外，還安裝了新的“干涉測量模式"。 現(xiàn)在可以支持更精確的表面輪廓測量。 兩種模式都可以根據(jù)所需的測量精度使用，從而擴(kuò)大了應(yīng)用范圍。
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控制器可用于共聚焦色度模式和干涉測量模式。 與以前的型號一樣，系統(tǒng)配置易于使用且簡單，只需根據(jù)所需的測量精度更換筆式模塊即可。
光源發(fā)出的光會(huì)反射在測量對象、參考板和參考平面上。 此時(shí)，兩個(gè)反射光之間存在光程差。 如圖所示，如果將參考板插入待測物體的前面并盡可能靠近，使光程差進(jìn)入干涉距離，則兩個(gè)反射光之間會(huì)發(fā)生干涉。 由于這種干涉的光譜強(qiáng)度是由波長調(diào)制的，因此可以通過軸向顏色校正光學(xué)筆進(jìn)行測量和分析，以實(shí)現(xiàn)更精確的厚度測量。
optiworks 非接觸式三維光學(xué)測量儀STIL-DUO
| 控制器 | CCS 控制器 | 光學(xué)筆“DUO"控制器 |
|---|---|---|
| 測量頻率 | 100~2，000點(diǎn)/秒 | ~2，000 點(diǎn)/秒 |
| 測量頻率選擇 | ○ | ○ |
| 光源 | 白色LED | 鹵素 |
| 光源強(qiáng)度 | 可 編程 序 | 可 編程 序 |
| 自動(dòng)照度調(diào)節(jié)功能 | ○ | - |
| 遙控 | - | - |
| 大小 | 168×138×120 毫米 | 376×363×114 毫米 |
| 重量 | 1.4 千克 | 6 公斤 |
